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BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统
BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统
关键词：热电，赛贝克系数，电阻率
BKTEM-B1型薄膜热电参数测试系统薄膜热电参数测试系统MRS-3RT专门针对常温下薄膜材料的泽贝克系数和电阻率的测量仪器，采用动态法和四线法保证测试结果的准确和稳定，拥有宽广的测试范围和便捷的操作界面。
产品特点
● 专门针对薄膜材料的Seebeck系数和电阻率测量。
● 测试环境温度范围达到81K~700K。
● 采用动态法测 量Seebeck系数，避免了静态测量在温差测量上的系统误差，测量更准确。
● 采用四线法测量电阻率。
● 卡箍设计，方便进行样品更换，提高效率。
● 软件操作简单，智能化可实现全自动模式。
产品技术参数
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型号
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BKTEM-B1
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温度范围
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RT
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测试气氛
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空气
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测量范围
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赛贝克系数：|S| ≥ 8μV/K
电阻率：0.1μΩ•m ~ 106μΩ•m
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分辨率
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泽贝克系数：0.05μV/K
电阻率：0.05μΩ•m
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相对误差
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赛贝克系数 ≤ ±7%
电阻率 ≤ ±10%
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样品尺寸
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长度:10mm~18mm；宽度:2mm~7mm；厚度：50nm~2mm
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主机尺寸
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170x250x220（mm）
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重量
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3.5kg
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